Влияние ультразвука на ЭПР и фотолюминесценцию кристаллов ZnS
Влияние
ультразвука на эпр и фотолюминесценцию кристаллов ZnS
Разнообразным эффектам, возникающим в кристаллах полупроводников и
диэлектриков при их механическом возбуждении ультразвуковыми колебаниями,
посвящено значительное количество работ, подробный обзор которых содержится в
монографии [1]. Как оказалось, после достижения определенной мощности
ультразвуковых колебаний, вводимых в различные кристаллы, в них возникает
специфическое свечение, которое было названо акустолюминесценцией. Всесторонее
изучение природы этого явления показало, что ультразвуковые волны приводят к
значительным качественным и количественным изменениям в дефектном составе
кристаллов, причина которых, в основном, связана с так называемыми
акустодислокационными взаимодействиями. В плане изучения таких взаимодействий
представляет интерес использовать разработанную в [2] методику, позволяющую с
помощью метода электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) исследовать тонкие
эффекты, связанные с малыми перемещениями дислокаций в кристаллах сульфида
цинка.
В настоящей работе исследовались кристаллы ZnS с примесью хрома,
выращенные из расплава по методу Бриджмена под давлением инертного газа. Для
исследований образцы вырезались в виде прямоугольных параллелепипедов размером
2х2х4 мм. Образцы подвергались кратковременному (10-15 минут) отжигу в
атмосфере цинка при температуре 1200°С. Отжиг производился в вакуумированных
запаянных кварцевых ампулах, в которые вместе с образцом помещался
металлический цинк высокой чистоты. ЭПР-исследования проводились на
радиоспектрометре RADIOPAN SE/X 2543 в Х-диапазоне при температруре 300 К.
Регистрация спектров фотолюминесценции (ФЛ) проводилсь с помощью монохроматора
МДР-12 и охлаждаемого фотоэлектронного умножителя ФЭУ-136 работающего в режиме
счета одноэлектронных импульсов [3]. В качестве источника возбуждающего света
использовался импульсный азотный лазер ЛГИ-505 с длиной волны 337 нм.
Ультразвуковые (УЗ) колебания возбуждались в пьезопреобразователе из цирконат
титаната свинца, затем передавались на алюминиевый концентратор, к которому
приклеивался образец. Такая конструкция позволяла прикладывать УЗ колебания к
образцу непосредственно как в резонаторе ЭПР спектрометра, так и во время
регистрации спектров фотолюминесценции.
В [2] было показано, что при кратковременном высокотемпературном отжиге
монокристаллов ZnS в атмосфере цинка происходит быстрая диффузия Zn по
дислокационным трубкам вдоль линий ростовых дислокаций. При этом примесные ионы
двухвалентного хрома, локализованные в атмосферах Коттрелла вне областей
ридовских цилиндров, становятся стабильно однократно ионизованными без
использования традиционной ультрафиолетовой подсветки. Такие ионы могут быть
использованы в качестве парамагнитных зондов для регистрации малых перемещений
дислокаций и процессов, происходящих в непосредственной близости от них. В
данной работе эта методика была использована для изучения эффектов, возникающих
в монокристаллах ZnS при действии ультразвуковых (УЗ) колебаний с мощностью,
меньшей порога возникновения акустолюминесценции.
Исследования спектров ЭПР показали, что при воздействии на кристаллы УЗ
колебаний g-фактор и ширина линий центров Cr+ и Mn2+ не
изменяются. Интенсивность линий Mn2+ остается постоянной, в то время
как для линий центров Cr+ наблюдается уменьшение интенсивности (на ~
25%, Рис.1, а). После прекращения действия УЗ колебаний интенсивность линий ЭПР
Cr+ восстанавливается не полностью (до ~ 95% от первоначального
значения).
Рис.1. Зависимость интенсивности линии ЭПР центров Cr+ (а) и
интенсивности максимума фотолюминесценции λ=450 нм (б) от времени воздействия
ультразвуковых колебаний.
Наблюдаемые изменения сигнала ЭПР Cr+ могут быть объяснены
следующим образом. Известно, что ростовые дислокации зарождались при высоких
температурах в условиях, благоприятных для процессов диффузии и поэтому
окружены густым облаком дефектов, которые ионизуются электрическими полями
дислокаций и экранируют их заряд. В результате чего радиус ридовских цилиндров
ростовых дислокаций в исходном состоянии имеет очень малую величину и объем
ридовских цилиндров минимален. Ясно, что в этом случае, концентрация центров Cr+
должна быть максимальной. После смещения из исходного положения, дислокации
частично выходят из компенсирующего их заряд облака, которое может перемещаться
только в результате диффузии, скорость которой при комнатных температурах
пренебрежимо мала. Радиус ридовских цилиндров вокруг дислокаций увеличивается,
что и является причиной уменьшения количества ионов Cr+. Таким
образом, полученные экспериментальные результаты свидетельствуют о том, что
упругие механические колебания ультразвуковой частоты вызывают смещения
ростовых дислокаций в пределах атмосфер Коттрелла. Понятно, что при этом
происходит увеличение эффективных радиусов ридовских цилиндров, то есть рост
"геометрического" заряда дислокаций, а значит под действием сильных
электрических полей дислокаций оказываются значительно большие объемы кристалла
чем в исходном состоянии. Тот факт, что после прекращения действия на кристалл
ультразвуковых колебаний, количество центров Cr+ восстанавливается
не полностью, свидетельствует о том, что какая-то часть дислокаций не
возвращается в начальные положения и электрические поля дислокаций оказывают
влияние на достаточно большое количество ионов хрома, то есть они остаются в
состоянии повышенной электрической активности.
Из всего вышесказанного следует, что в процессе действия УЗ колебаний
электрические поля отрицательно заряженных дислокаций должны приводить к
обеднению электронами областей, занимаемых атмосферами Коттрелла. О том, что
это действительно так, свидетельствуют экспериментальные результаты, полученные
при исследовании влияния УЗ колебаний на фотолюминесценцию (ФЛ) кристаллов
сульфида цинка. В спектрах люминесцении наблюдалась голубая полоса с максимумом
на длине волны 450 нм. Предварительные исследования показали, что при
воздействии ультразвуковых колебаний на образец форма и ширина спектра не
изменяется. Поэтому наблюдения велись только за интенсивностью люминесценции на
длине волны максимума.
Анализ природы центров голубой люминесценции, имеющей в кристаллах
сульфида цинка рекомбинационный характер, позволяет считать, что они, в
основном, локализованы в вблизи ростовых дислокаций, то есть входят в состав
примесных атмосфер Коттрелла. Естественно, что вытеснение из этих областей
свободных электронов должно приводить к уменьшению излучательной способности
кристаллов. И, действительно, нами было обнаружено, что при воздействии
ультразвуковых колебаний на кристаллы интенсивность максимума голубой
люминесценции значительно (до ~ 50%) уменьшается (рис.1, б). После прекращения
действия ультразвука на образец интенсивность фотолюминесценции
восстанавливается до 80% от исходного значения. Таким образом, можно
предположить, что изменения интенсивности ФЛ и смещение дислокаций коррелируют,
это указывает на их взаимосвязь и объясняет природу происходящих процессов. Тот
факт, что степень необратимости интенсивности фотолюминесценции кристаллов
значительно выше чем для количества центров Cr+ при ЭПР-исследованиях,
является подтверждением того, что действительно, центры голубого свечения
преимущественно располагаются вблизи ростовых дислокаций.
Рентгеновские лучи широко используются в науке, технике и медицине,
поэтому понятен интерес к элементам рентгеновской оптики, позволяющим
формировать рентгеновские пучки с заданными параметрами. Так, например,
микропучки рентгеновского излучения широко используются для реализации метода
малоуглового рассеяния и дифракции, позволяющего получать информацию о структурных
особенностях объекта на наноуровне.
Микропучки могут быть сформированы с использованием целого ряда
оптических элементов, таких как изогнутые кристаллы и многослойных
рентгеновские зеркала, зонные пластинки, Брэгг - Френелевские линзы, линзы
Кумахова, конические или параболические монокапилляры.
Относительно новым оптическим элементом является многоэлементная
преломляющая рентгеновская линза, впервые предложенная в [1]. Линза состоит из
большого числа (100 и более) двояковогнутых микролинз, расположенных соосно.
Линзы выполнены из материала, содержащего элементы с небольшим порядковым
номером, такого как бериллий, литий, углерод или полимер. Радиус кривизны
отдельной микролинзы составляет 100-200 мкм. Линзы изготавливаются, например,
методом прессования отдельных элементов с последующим расположением их соосно,
или с использованием методики LIGA.
При этом возникает целый ряд проблем, связанных с юстировкой многоэлементной
системы, а также с обеспечением относительно высоко качества формы поверхности
линзы и ее гладкости. Идеальная преломляющая линза может быть использована для
фокусировки рентгеновских лучей в пятно размером в десятки нанометров, на
практике получено пятно размером около 200 нм.
В НИИ ПФП им.А.Н. Севчнко БГУ разработана многоэлементная преломляющая
линза для рентгеновских лучей с относительно коротким фокусным расстоянием - 5
- 10 см для фотонов с энергией около 8 кэВ [2-4]. Линза выполнена в виде
стеклянного капилляра, заполненного большим числом (100-300) двояковогнутых
микролинз из эпоксидной смолы. Радиус кривизны отдельной микролинзы совпадает с
радиусом канала капилляра и, благодаря этому, становится возможным создать
линзы с радиусом кривизны поверхности, равным 10-50 мкм, что трудно реализовать
другими известными методами, например, прессованием. Оптические параметры линз
были исследованы на синхротронах SPring-8 (Япония) [3], в Стенфордской
лаборатории синхротронного излучения и на синхротроне APS (США) [4], на синхротронах ANKA (Германия) и ESRF (Франция). Исследования показали, что с применением
обсуждаемых линз можно сфокусировать пучок фотонов с энергией 7-18 кэВ в пятно
размером в несколько микрометров.
Целью данной работы является обобщить результаты исследования оптических
параметров многоэлементной преломляющей рентгеновской линзы, разработанной в
НИИПФП им.А.Н. Севченко БГУ, и оценить перспективы использования линзы для
формирования субмикронных пучков.
Так как действительная часть показателя преломления n в рентгеновском диапазоне меньше
единицы, то фокусировку рентгеновских лучей можно осуществить с помощью
двояковогнутой линзы. Чтобы усилить преломляющие свойства линзы, в [1] было
предложено использовать вместо одной линзы - N: фокусное расстояние такой системы определяется как:
, (1)
где f1 - фокусное расстояние для одной
линзы, R - радиус кривизны линзы, (1-d) - действительная часть комплексного показателя преломления n =1 - d - iβ, iβ - мнимая часть.
Преломляющая рентгеновская линза, как и линза для видимого излучения,
позволяет получать уменьшенное изображение источника излучения. Эта особенность
линзы используется для получения микро - и нано - пучков от сихротронных
источников излучения. Для этих источников, как правило, область пространства, в
которой формируется рентгеновский пучок, удалена от объекта исследования на
расстояния, значительно превышающих фокусное расстояние линзы. Размер фокусного
пятна S1 рентгеновской линзы можно определить, пользуясь
следующими формулами:
, (2)
, (3)
где a - расстояние от источника излучения
до линзы, b - расстояние от линзы до плоскости
изображения, S - размер источника излучения. Если
источник излучения удален достаточно далеко, то размер изображения источника в
идеале приближается к размеру дифракционного пятна, радиус которого Rdif
рассчитывается по следующей формуле
, (4)
где Ra - апертура линзы. Для линз со сферической формой
поверхности отрицательную роль играют сферические аберрации, приводящие к
размытию фокального пятна. Эти аберрации можно охарактеризовать величиной rs
[3]:
, (5)
где l - длина волны.
Смысл этого параметра rs состоит в том, что рентгеновские
лучи от удаленного источника, пересекающие линзу на расстоянии rs от
оси, фокусируются линзой в дифракционное пятно с радиусом Rdif.
Как правило, для случая сферической линзы соответствующие аберрации
приводят к уширению фокального пятна до величины в несколько мкм. Поэтому для
получения субмикронных пучков имеет смысл использовать диафрагму с радиусом
отверстия, равным rs. В этом случае размер пучка в фокальной
плоскости для случая удаленного источника будет определяться формулой (5),
рассчитанной для Ra = rs. Например, для
преломляющей линзы, состоящей из 100 сферических микролинз из эпоксидной смолы
с радиусом кривизны поверхности, равным 100 мкм, фокусное расстояние равно 13
см для фотонов с энергией 8 кэВ. Параметр rs для данного
случая равен 30 мкм. Указанная линза, оснащенная диафрагмой с диаметром
отверстия, равным 60 мкм (2rs), позволяет сфокусировать
рентгеновские лучи от удаленного источника в пятно размером 2Rdif =
400 нм.
Чтобы проиллюстрировать возможности преломляющей оптики, в таблице 1
приведены параметры синхротронов SSRL
(США), APS (США), ANKA (Германия), ESRF (Франция), на которых испытывались линзы, разработанные в НИИПФП им.А.Н.
Севченко БГУ. В графе "размер источника" указаны размеры источника (FWHM) в двух направлениях - вертикальном
и горизонтальном.
Таблица 1. Параметры синхротронов, на которых
испытывались рентгеновские линзы.
Название
синхротрона, номер линзы
|
Расстояние от
источника до линзы, м
|
Размер
источника излучения, мкм Х мкм
|
Энергия фотонов
|
SSRL, линза № 1
|
16,8
|
400 Х 1700
|
7 кэВ, 8 кэВ
|
APS, линза № 2
|
58
|
23 Х 97
|
18 кэВ,20 кэВ
|
ANKA, линза № 3
|
12,7
|
250 Х 800
|
12 кэВ, 14 кэВ
|
ESRF, линза № 4
|
55
|
80 Х 250
|
18 кэВ
|
В таблице 2 суммированы результаты измерений фокусного расстояния и
фокально пятна для линз №№1-4, которые отличаются числом микролинз. Линза №1
содержит 102 сферические микролинзы, линза №2 - 349 микролинз, линза №3 - 224
микролинзы, линза №4 - 112 микролинз. Радиус кривизны поверхности у всех линз
равен 100 мкм.
Таблица 2. Результаты измерений фокусного расстояния и
фокального пятна линз №№ 1-4.
Номер линзы
|
1
|
1
|
2
|
2
|
3
|
3
|
4
|
Энергия
фотонов, кэВ
|
8
|
7
|
18
|
20
|
12
|
14
|
18
|
Число микролинз
в линзе
|
102
|
102
|
349
|
349
|
224
|
224
|
112
|
Радиус кривизны
линзы, мкм
|
100
|
100
|
100
|
100
|
100
|
100
|
100
|
Измеренное
расстояние до плоскости изображения, мм
|
140
|
100
|
208
|
250
|
146
|
195
|
575
|
Рассчитанное
расстояние до плоскости изображения, мм
|
126
|
97
|
192
|
240
|
147
|
195
|
590
|
Измеренное
фокусное пятно, мкм
|
2.7
|
4
|
1.5
|
2.1
|
2.2
|
3.0
|
2.7
|
Рассчитанный
размер фокусного пятна, мкм
|
3.2
|
2.7
|
0.08
|
0.1
|
2.5
|
3.3
|
0.8
|
Измеренное
пропускание линзы,%
|
27
|
5
|
39
|
46
|
9.5
|
21.5
|
--
|
Размер пучка в фокальной плоскости для линз № 1 и № 2 определялся методом
"ножа", для линзы № 3 - методом сканирования в пределах
флуоресцентной мишени, для линзы № 4 - с использованием CCD - камеры. Размер
пучка приведен только для измерения в одном направлении - вертикальном.
К настоящему времени довольно подробно изучен зонный метамагнитный
переход в соединениях типа Co2, в которых R¢ и R¢¢ - либо легкие редкоземельные металлы, либо тяжелые. Переходы и
в тех и в других системах объясняются на основе модели эффективного
критического поля Heff, действующего со стороны подсистемы локализованных f-электронов R-ионов на подсистему
коллективизированных электронов, образованную, главным образом, d-электронами кобальта. Согласно этой
модели зонный метамагнитный переход имеет место, если величина эффективного
поля превышает критическое значение H » 70 Тл. В отсутствие внешнего магнитного поля величина Heff пропорциональна намагниченности R-подсистемы. Как известно, в
соединениях RCo2 с легкими редкоземельными ионами
магнитные моменты R
- и Co-подсистем параллельны между собой, а
в соединениях с тяжелыми РЗМ эти моменты упорядочены антипараллельно. С точки
зрения указанной модели представляет интерес исследование магнитного состояния
соединений Co2, в которых концентрации R¢ и R¢¢ подобраны так, что суммарная
намагниченность ионов R¢ и R¢¢ равна (или близка к) нулю.
В данной работе представлены результаты нейтронографических исследований
соединений Nd1-xTbxCo2 (0 £ х £ 1). Поликристаллические образцы были
получены индукционной плавкой с последующим гомогенизирующим отжигом при 850 ˚С
в течение 50 часов. Аттестация образцов проводилась с помощью металлографического,
рентгенографического и нейтронографического анализов. Во всех образцах фаза RCo2 является основной, содержание
примесных фаз (RCo3 и R2O3) не превышает 5%. Температурные
зависимости электросопротивления измерялись четырехконтактным потенциометрическим
методом на образцах с размерами около 1 × 1 × 6 мм3. Нейтронографический
эксперимент проведен на дифрактометре Д-2, установленном на одном из
горизонтальных каналов реактора ИВВ-2М (г. Заречный), с длиной волны нейтронов l = 1.805Ǻ. Результаты расчета нейтронограмм,
измеренных при комнатной температуре, позволяют считать, что во всех
исследованных нами соединениях Nd1-xTbxCo2 основная фаза имеет кристаллическую
структуру типа MgCu2 (пространственная группа Fd3m). Параметр решетки a равномерно уменьшается с увеличением x, что связано с различием ионных
радиусов Nd и Tb. Из кривых температурной зависимости
электросопротивления для соединений Nd1-xTbxCo2 были получены температуры Кюри TC для каждого сплава.
Результаты анализа нейтронограмм показывают, что охлаждение образцов до
4.2 К сопровождается переходом к ромбоэдрической структуре (пространственная
группа R-3m) для составов с х ³ 0.5. Для составов с х £ 0.5 охлаждение до 4.2 К
сопровождается переходом к орторомбической структуре (пространственная группа Fddd). На всех нейтронограммах при 4.2 К
наблюдаются вклады в рефлексы от магнитного рассеяния. С изменением состава
сплавов наиболее заметно изменяется интенсивность рефлекса (111). Параметры
кристаллической и магнитной элементарных ячеек совпадают. Магнитная структура
соединений Nd1-xTbxCo2 описывается
волновым вектором k =
0. Были получены значения намагниченностей редкоземельной mR и кобальтовой mCo подрешеток, приведенные на рис.1 a, b.
Как видно из рис.1, с ростом x величина намагниченности mR вначале уменьшается от ~2.9 mБ практически до нуля при x » 0.22, а затем увеличивается по
модулю до ~8.2 mБ при x » 1.0. Такое поведение mR (x) становится понятным, если принять во внимание, что
магнитный момент иона Tb
примерно в три раза больше, чем момент иона Nd, и то, что в соответствии с моделью
антиферромагнитного упорядоче-ния моментов ионов R¢ и R² в кубических интерметаллидах типа R¢1-xR²xM2 [1] следует ожидать
антипараллельного упорядочения полных моментов ионов Nd и Tb в интерметаллиде Nd1-xTbxCo2. С ростом концентрации x увеличивается и намагниченность mCo (см. Рис.1b), что согласуется с представлениями
о метамагнитной природе зонной подсистемы. Как известно, в случае соединений
типа RCo2 поведение зонной метамагнитной
подсистемы может быть описано соотношением [1] mCo = (gJ-1) JRIR-Co, где gJ
- фактор Ланде, JR - полный
момент иона R, IR-Co - параметр R-Co - обменного взаимодействия. В случае соединений Nd1-xTbxCo2
с ростом x величина (gJ-1) JR увеличивается, (так как спин тербия больше спина
неодима), а, следовательно, будет увеличиваться и намагниченность подрешетки Co.
Итак, во всем интервале концентраций x магнитная структура соединений Nd1-xTbxCo2
описывается волновым вектором k =
0. Получено, что намагниченности R - и Co - подрешеток параллельны между собой
при x £ 0.22 и антипараллельны при x > 0.22. Концентрационная
зависимость намагниченности подрешетки Co подтверждает модель метамагнитного поведения зонной
подсистемы в соединениях типа RCo2.
Список
литературы
1. И.В.
Островский Акустолюминесценция и дефекты кристаллов. Киев: Вища шк., 1993, 219
с.
2.
С.А. Омельченко, А.А. Горбань, М.Ф. Буланый, А.А. Тимофеев ЭПР-исследования
изменений зарядового состояния Cr по сечению
дислокационных трубок в кристаллах ZnS // ФТТ, том 48, вып.5, с.638-642.
3. М.Ф.
Буланый, А.Г. Сорокин, А.К. Флоров, А.Н. Хачапуридзе Автоматизированная система
измерения спектров люминесценции полупроводников // Тез. докл. IX Науч.-техн. конф. с участием
зарубежных специалистов “Датчики и преобразователи информации систем измерения,
контроля и управления” - Датчик-97. Гурзуф. 1997. с.351 - 353.
|